[发明专利]电波暗室及其电波测试装置在审
| 申请号： | 201310361436.9 | 申请日： | 2013-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN104422826A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 何等乾;何小练 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密电子(天津)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300457 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种电波测试装置，包括一支撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑动件滑动的第一驱动组件、一沿垂直该支撑杆的方向滑动地组设于该滑动件的齿条、一驱动该齿条的第二驱动组件及一设于该齿条底端的场强探头，该第一驱动组件及第二驱动组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在支撑杆及滑条所在平面内移动，该第二驱动组件设有一啮合于该齿条的驱动齿轮。该电波测试装置的第一驱动组件及第二驱动组件驱动该场强探头移动至各个测试点进行测试，使用方便并提高了测量准确度。本发明同时提供一种设有该电波测试装置的电波暗室。 | ||
| 搜索关键词： | 电波 暗室 及其 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种电波测试装置，包括一支撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑动件滑动的第一驱动组件、一沿垂直该支撑杆的方向滑动地组设于该滑动件的齿条、一驱动该齿条的第二驱动组件及一设于该齿条底端的场强探头，该第一驱动组件及第二驱动组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在支撑杆及滑条所在平面内移动，该第二驱动组件设有一啮合于该齿条的驱动齿轮。
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