[发明专利]光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201310310736.4 | 申请日： | 2013-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN103398984A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 乔健;韩光宇;曹立华;郭劲 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 王丹阳 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法，属于光电仪器领域，解决了现有单光束检测方法无法在外场条件下对光电望远镜光学系统的透过率有效测量的问题，该装置包括支撑架；安装在支撑架上的手动调整平台；固定在手动调整平台上的He-Ne激光器；主要由探头和输出显示装置组成的激光功率计，探头放置在He-Ne激光器的输出窗口前端，并与He-Ne激光器的激光输出光轴垂直。本发明通过激光功率计探头将He-Ne激光器激光束完全覆盖，并通过探头测量不同位置及不同输出波长下的光学系统的透过率值再取均方值从而测得透过率，实现在外场条件下对光电望远镜光学系统透过率的有效测量，方法简捷、方便，并且成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 望远镜 光学系统 透过 外场 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置，其特征在于，该装置包括：支撑架（1）；安装在所述支撑架（1）上的手动调整平台（2）；固定在所述手动调整平台（2）上的He‑Ne激光器（3）；主要由探头（41）和输出显示装置（42）组成的激光功率计（4），所述探头（41）放置在He‑Ne激光器（3）的输出窗口（31）前端，并与He‑Ne激光器（3）的激光输出光轴垂直。
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