[发明专利]一种光器件测量方法及测量系统

摘要

本发明公开了一种光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。本发明在现有基于光单边带调制的光器件测量方法的基础上，采用两种光单边带探测信号（即包含载波和载波抑制的光单边探测信号）相结合的方法，消除了由光单边带探测信号中相邻高阶边带间拍频引入的测量误差，从而极大地提高了测量系统的测量精确度和动态范围。本发明还公开了一种光器件测量系统。本发明可实现高精细度和高精确度的光器件测量，使得基于光单边带调制的光器件测量技术走向实用。

主权项

一种光器件测量方法，首先将微波扫频信号通过光单边带调制单元调制于光载波上，生成光单边带探测信号；使光单边带探测信号通过待测光器件后，利用光探测器将其转换为电信号；以所述微波扫频信号作为参考，提取出所述电信号中的幅度和相位信息；最后对所提取出的幅度和相位信息进行计算处理，得到待测光器件的响应函数；其特征在于，所述测量方法具体包括以下步骤：步骤1、在光单边带调制单元与光探测器之间不级联待测光器件的条件下，分别采用完整光单边带探测信号以及滤除光载波的光单边带探测信号测量系统的响应函数；然后用前者的响应函数减去后者的响应函数，得到消除误差后的系统响应函数；步骤2、在光单边带调制器与光探测器之间级联待测光器件的条件下，分别采用完整光单边带探测信号以及滤除光载波的光单边带探测信号测量系统与待测光器件的联合响应函数；然后用前者的联合响应函数减去后者的联合响应函数，得到消除误差后的联合响应函数；步骤3、用消除误差后的联合响应函数除以消除误差后的系统响应函数，得到消除误差后的待测光器件的响应函数。