[发明专利]一种国产制式手枪射击距离的分析推断方法有效
申请号: | 201310308766.1 | 申请日: | 2013-07-22 |
公开(公告)号: | CN103438922A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 胡孙林;温锦锋;刘超;李富海;范恒胜;黄炜;张晓芬 | 申请(专利权)人: | 广州市刑事科学技术研究所 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00;G01N23/22 |
代理公司: | 广州市深研专利事务所 44229 | 代理人: | 姜若天 |
地址: | 510030*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种国产制式手枪射击距离的分析推断方法。包括以下步骤:(1)制备参考样品:(2)射击残留物提取:(3)镀膜处理:(4)射击残留物扫描电镜能谱分析:(5)射击距离推断。其中包括试射实验、案件检材和试射样本射击残留物分析的结果进行比较、综合推断射击距离等环节。本发明灵敏度高、客观、准确,在枪击案件射击距离推断实践中具有良好的应用前景。 | ||
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【主权项】:
1.一种国产制式手枪射击距离的分析推断方法,其特征在于包括以下步骤:(1)制备参考样品:以尺寸为3-8mm(长)×3-8mm(宽)×10-100μm(厚)、纯度>95-98%(重量百分比)的铁片为参考样品,将其置于射击残留物提取器的碳导电胶上,扣上密封盖后置真空干燥箱内保存;(2)射击残留物提取:用射击残留物提取器在枪击案件中射击客体上距入射口0-100cm范围内反复粘取附着物,直至碳导电胶面失去粘性;(3)镀膜处理:根据所提取检材导电能力决定是否进行镀膜处理:若扫描电镜下,由于检材导电性差导致电荷积累,从而产生明显的充电现象,则需利用真空镀膜仪或离子溅射仪在检材表面镀上一层碳膜,碳膜的厚度控制在5-20nm;若检材在扫描电镜下无明显充电现象,则无需进行镀膜处理。(4)射击残留物扫描电镜能谱分析:采用扫描电镜能谱仪对案件检材中含有S、Pb、Sn、Sb元素,每个元素的相对百分含量均在5-10%以上的射击残留物进行检测分析。(5)试射与距离推断:
试射环境:选择与案件现场相同或相接近的地理位置和气候条件下进行试射实验;
试射手枪与子弹:采用型号与枪击案件中嫌疑人所使用枪弹相同的手枪和子弹进行试射实验;
试射客体:采用与枪击案件中射击客体材质相同或接近的材料作为靶材;
试射距离:在0cm-1000cm范围内选择5-10个射击距离,分别进行射击,每个距离至少射击3次;
射击距离推断:按步骤(2)-(4)对试射实验中靶材上的射击残留物进行提取和分析,对案件检材和试射实验样本的检验结果进行比较,并根据比较结果推断射击距离,所推断的射击距离应以区间范围的形式进行表述。案件检材GSR检验结果应与某一试射距离样本GSR检验结果相一致,该试射距离应包含在该区间内,区间的宽度大于10cm;若检材中未检出射击残留物颗粒,则采用下列三点法推断射击距离:第一点,该距离射击下均可检出GSR,全阳性;第二点,该距离射击下GSR检测时而阳性,时而阴性;第三点,该距离射击下均不能检出GSR,全阴性。所推断射击距离表述为:射击距离不小于第二点的距离。
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