[发明专利]压缩感知框架下的快速弥散张量成像方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310307016.2 申请日: 2013-07-19
公开(公告)号: CN103356193A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 马婷;吴绍华;张利敏 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学深圳研究生院
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 邓扬;于标
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种压缩感知框架下的快速弥散张量成像方法及系统,该快速弥散张量成像方法包括A.初始化第一个弥散梯度对应的采样掩膜mask1,并且采用射线型采样轨迹;B.将第一个弥散梯度对应的采样掩模mask1旋转一固定角度,得到第二个弥散梯度对应的采样掩膜mask2,将第二个弥散梯度对应的采样掩膜mask2以同样方向旋转同一固定角度获得第三个弥散梯度对应的采样掩膜mask3,以此类推共获得L个采样掩膜mask。本发明的有益效果是本发明在采样点数相同的情况下,本发明可以通过重建,获得更高质量的弥散图像。换句话,就是在获得相同的图像质量时,新方案所需的采样点更少,降低采样时间,实现加速成像的目的。
搜索关键词: 压缩 感知 框架 快速 弥散 张量 成像 方法 系统
【主权项】:
一种压缩感知框架下的快速弥散张量成像方法,其特征在于,针对有M个层面,每个层面有L个梯度的弥散张量成像系统,即:共重建M*L幅图像,对于每个层面包括执行如下步骤:A.初始化第一个弥散梯度对应的采样掩膜mask1,并且采用射线型采样轨迹;B.将第一个弥散梯度对应的采样掩模mask1旋转一固定角度,得到第二个弥散梯度对应的采样掩膜mask2,将第二个弥散梯度对应的采样掩膜mask2以同样方向旋转同一固定角度获得第三个弥散梯度对应的采样掩膜mask3,以此类推共获得L个采样掩膜mask,根据各个采样掩膜mask,获得各测量矩阵Φi,所述L为弥散梯度数量;C.利用生成的测量矩阵分别获取对应各弥散梯度k空间的测量值yi;D.针对在第j个层面的第i个梯度的图像数据,利用同一层面上第1到i‑1、与i+1到L个梯度的加权数据对其进行补偿,作为该目标图像的新的测量值yi_new,并获得测量值所对应的测量矩阵Φi_new,构造稀疏小波变换Ψ;E.利用前面获得的yi_new与Φi_new,带入压缩感知非线性共轭梯度算法获得各个弥散张量图像。通过重复步骤A至步骤E,能够获得M*L个弥散图像。
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