[发明专利]一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及其方法有效
| 申请号： | 201310303636.9 | 申请日： | 2013-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN103364080A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 赵佳 | 申请（专利权）人： | 北京工商大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 100048*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及方法，实现对真空紫外光谱信号的绝对测量。探测器由带纳米孔的多孔阳极氧化铝模板构成，该板的纳米孔中沉积有可生长出单质金属纳米线的单质金属，该探测器用于真空环境下测量30－250eV的紫外光信号强度。测量方法是：用一铜环片作阳极，用金属纳米线探测器作阴极，两者间插有绝缘垫圈，将阴极与一个电流计串联，并在该测量回路中加设一可为阳极与阴极间提供正或负偏压的直流稳压电源；先用一传输标准探测器对金属纳米线探测器进行标定；再将标定好的探测器置于测量光强信号光路布局中的对应位置上；启动光路系统，并对阳极与阴极间加正或负偏压；采用全电子产额的方法测量光强信号，测量高效且信号稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 真空 紫外光 强度 金属 纳米 探测器 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器，其特征在于：其由一具有纳米孔结构的多孔阳极氧化铝模板构成，该多孔阳极氧化铝模板的纳米孔中沉积有可生长出单质金属纳米线的单质金属。
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