[发明专利]一种三反射镜紧缩场天线测量系统有效
| 申请号： | 201310296808.4 | 申请日： | 2013-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN103513117A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 俞俊生;杨诚;陈晓东;姚远;刘小明;晁永辉;陆泽健 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 王一斌;王琦 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种三反射镜紧缩场天线测量系统，包括馈源、主反射镜、第一赋形副反射镜和第二赋形副反射镜，馈源发出的电磁波经过第一赋形副反射镜反射到第二赋形副反射镜上，第二赋形副反射镜将电磁波反射到主反射镜上，经主反射镜反射的电磁波以平面电磁波出射，生成系统出射场；第一赋形副反射镜与第二赋形副反射镜形成卡塞格伦天线结构，第二赋形副反射镜与主反射镜形成格里高利天线结构。本发明的三反射镜紧缩场天线测量系统采用卡塞格伦-格里高利三反射镜结构来设计紧缩场天线测量系统，不仅可以达到较高的主镜口径利用率，保持了优良的静区性能，而且降低了制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 紧缩 天线 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种三反射镜紧缩场天线测量系统，其特征在于，包括馈源、主反射镜、第一赋形副反射镜和第二赋形副反射镜，馈源发出的电磁波经过第一赋形副反射镜反射到第二赋形副反射镜上，第二赋形副反射镜将电磁波反射到主反射镜上，经主反射镜反射的电磁波以平面电磁波出射，生成系统出射场；第一赋形副反射镜与第二赋形副反射镜之间的电磁波传播光路形成卡塞格伦反射形式。
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