[发明专利]一种基于X射线荧光分析技术的爆炸物综合检测系统及检测方法有效
| 申请号： | 201310295024.X | 申请日： | 2013-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN103399026A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 杨李锋;丑毅;刘铎;王海燕;张峰;王毅峰;邓立;丁广;王威 | 申请（专利权）人： | 纳优科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 鲁兵 |
| 地址： | 100123 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于X射线荧光分析技术的爆炸物综合检测系统及检测方法，该系统包括检测用封闭箱体、供物品通过的输送通道以及计算机和控制系统，在所述输送通道的上、下或两侧安装有至少一组能谱探测组件，用于对输送通道内运动或静止的物品中的元素种类及含量进行探测。本发明利用XRF分析技术原理对爆炸物等进行检测，适用于在线安全监控等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 射线 荧光 分析 技术 爆炸物 综合 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于X射线荧光分析技术的爆炸物综合检测系统，包括检测用封闭箱体、供物品通过的输送通道以及计算机和控制系统，其特征在于：在所述输送通道的上、下或两侧安装有至少一组能谱探测组件，用于对输送通道内运动或静止的物品中的元素种类及含量进行探测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纳优科技（北京）有限公司，未经纳优科技（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310295024.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于空调的排水装置
- 下一篇：一种氰基乙酸产品含量的测定方法
