[发明专利]多介质层超声波测厚方法

摘要

一种多介质层超声波测厚方法，所述的测厚方法使用超声波探头进行，所述的超声波探头是超声波发射斜探头和超声波接收斜探头，用超声波斜探头测厚方法包括以下步骤：将超声波发射斜探头通过耦合剂贴合在多层介质的最上层介质表面用于向介质内发射超声波；将超声波接收斜探头与超声波发射斜探头放置在同一个平面内，从离超声波发射斜探头最近处沿远离超声波发射斜探头方向开始扫描，得到各返回点的时间根据厚度计算公式计算出各介质层的自身厚度。本测厚方法实用性强，应用广泛，可以实现对多介质层厚度的快速测量。在一些特殊场所，可以实现不影响正常生产的情况下完成在线检测，缩减检测时间的同时也节约了检测成本。

主权项

1.一种多介质层超声波测厚方法，所述的测厚方法使用超声波探头进行，其特征在于，所述的超声波探头是超声波斜探头，包括超声波发射斜探头和超声波接收斜探头，用超声波斜探头测厚方法包括以下步骤：步骤⑴：将超声波发射斜探头通过耦合剂贴合在多层介质的最上层介质表面用于向介质内发射超声波；步骤⑵：将超声波接收斜探头与超声波发射斜探头放置在同一个垂直平面内，从离超声波发射斜探头最近处沿远离超声波发射斜探头方向开始扫描；步骤⑶：超声波在各介质层中传播，且在各介质层中超声波的折射角和反射角的关系满足斯奈尔传播定律，即折射定律，其中为入射角，为折射角，是光在第一种介质的速度，是光在第二种介质中的速度，故入射超声波在各介质层中经历反射和折射最终返回到最上层介质的表面，且各返回点之间呈一定间距线性排列，这样使用步骤2中的超声波接收斜探头逐点扫描，得到各返回点的时间T₁、T₂、T₃、…T_n；步骤⑷：根据厚度计算公式，计算出各介质层的自身厚度d，其中c为超声波在各介质层中传播的速度，是超声波进入到各介质层时与其法线的夹角，在各介质层中超声波传播时间，即、、…的值。