[发明专利]用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法

摘要

本发明公开了一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其通过对于同一分辨率的信号源，分析增加或减少采样点数对测试结果精确度的影响，并在此基础上建立采样点数同测试结果之间的关系模型，以及信号源的分辨率同测试结果精确度之间的关系。基于得到的关系模型，可以确定在给定测试对象和测试目的，进而实现在对高精度ADC进行快速测试、精确测试以及快速精确的低成本测试等目的时最佳信号源的选择，在保证测试结果的同时降低测试成本。

主权项

一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其特征在于，具体的选取过程如下：在确定待测高精度ADC的测试方法后，利用测试方法进行测试，再分析影响测试结果的主要因素，在不改变其他条件的情况下，提高待测ADC的采样速率，增加或者减少用于测试分析的采样点数，重复测试，分析当保证测试结果误差在给定范围内时采样点数与积分非线性误差之间的关系；然后，逐比特降低信号源的分辨率，重复前面的测试方法直到测试结果出现突然增加的现象为止；基于不同分辨率信号源对测试结果的影响，建立信号源分辨率同积分非线性误差之间的关系模型，建立在不同分辨率的信号源情况下所需采样点数同积分非线性误差之间的关系模型；最后，基于给定的关系模型图，确定给定测试对象和测试目的时所需的最佳分辨率信号源。