[发明专利]介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统

摘要

本发明公开了一种介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统，所述测量装置包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质，同轴结构在轴向分为直圆柱测量段和两侧直径渐变收缩的阻抗匹配过渡段，阻抗匹配过渡段的端口设计有使本装置接入测量系统的同轴接口，构成同轴测量段的外导体中间直圆柱段设计有供盛装待测介电系数物质的试管插入的安装孔，内导体于试管插入处断开。所述测量系统，包括微波信号源、环行器、双定向耦合器、介电系数微波测量装置、定向耦合器、匹配负载、检波器、放大器、A/D模数转换器和计算机。采用本发明进行介电系数测试，具有实时、准确的特点，特别适用于液体、粉状物质的介电系数测量。

主权项

一种介电系数微波测量装置，其特征在于，包括同轴结构的外导体（3）、内导体（1）及位于内外导体之间的绝缘介质（2），同轴结构在轴向分为直圆柱测量段和两侧直径渐变收缩的阻抗匹配过渡段，阻抗匹配过渡段的端口设计有使本装置接入测量系统的同轴接口，构成同轴测量段的外导体中间直圆柱段设计有供盛装待测介电系数物质的试管插入的安装孔（4），内导体于试管插入处断开，由同轴接口导入的微波辐射试管内待测物质得到其介电系数的测量信号。