[发明专利]一种ZnO纳米阵列紫外探测器及其制作方法有效
申请号: | 201310259647.1 | 申请日: | 2013-06-26 |
公开(公告)号: | CN103441154A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 张跃;衣芳;廖庆亮;黄运华;闫小琴 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;H01L31/09 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 皋吉甫 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明一种ZnO纳米阵列紫外探测器及其制作方法,该器件结构为金属-半导体-金属接触型,从下到上依次为ITO或FTO导电玻璃的基底,覆盖在基底上的ZnO薄膜,位于ZnO薄膜的中间位置的另一端电极,以及另一端电极四周的ZnO纳米阵列,同时基底为一端电极;另一端电极的面积为基底总面积的10%~12%。制备方法如下:先利用磁控溅射在基底上生长一层ZnO薄膜;然后在ZnO薄膜上电极并引出一端导线;接着在电极上覆盖PDMS保护层;再通过水热法生长ZnO纳米阵列;最后在样品一侧边缘处刮掉部分ZnO使导电玻璃基底裸露并引出另一端导线,即得所述紫外探测器。本发明具有制作工艺简单、易于操作、成本低廉、器件灵敏度高、性能稳定等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 zno 纳米 阵列 紫外 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种ZnO纳米阵列紫外探测器,其特征在于:该器件结构为金属‑半导体‑金属接触型,从下到上依次为ITO或FTO导电玻璃的基底,覆盖在所述基底上的ZnO薄膜,位于所述ZnO薄膜中间位置的一端电极,以及所述一端电极四周的ZnO纳米阵列,同时所述基底为另一端电极;其中,所述一端电极为Ag或Pt;一端电极的面积为基底总面积的10%~12%。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的