[发明专利]一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试方法有效
| 申请号： | 201310238933.X | 申请日： | 2013-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN103323108A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 刘晓艳;郭方敏 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 上海蓝迪专利事务所 31215 | 代理人： | 徐筱梅;张翔 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试方法，包括将量子效应光电探测阵列与读出电路对接，利用光电测试平台对量子效应光电探测阵列进行微光测试，其特点是所述量子效应光电探测阵列的输入端接有可变电阻器，通过调节可变电阻器分流和降低量子效应光电探测阵列流向读出电路的暗电流，提高可测的电压阈值，增大光信号的读出范围，更有效的读出量子效应光电探测阵列的微光信号。本发明与现有技术相比具有电荷存储容量和信噪比高，动态阻抗小，有效增大了响应率和可测光功率的动态范围，有利于新型光电探测器的广泛应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 降低 量子 效应 光电 探测 阵列 电流 微光 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试方法，包括将量子效应光电探测阵列与读出电路对接，利用光电测试平台对量子效应光电探测阵列进行微光测试，读出电路通过外部时序控制电路将量子效应光电探测阵列采集的光信号有序读出后输入数据采集系统，由数据采集系统对测试的光电器件进行微光特性分析，其特征在于所述量子效应光电探测阵列的输入端接有可变电阻器，通过调节可变电阻器分流和降低量子效应光电探测阵列流向读出电路的暗电流，提高可测的电压阈值，增大光信号的读出范围，更有效的读出量子效应光电探测阵列采集的微光信号。
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