[发明专利]边耦合半导体激光器的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310198495.9 申请日: 2013-05-24
公开(公告)号: CN103311804A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 李静思;李思敏 申请(专利权)人: 南京威宁锐克信息技术有限公司
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 211100 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 边耦合半导体激光器的制造方法,在n型磷化铟衬底材料上外延生长n型缓冲层;1)在外延n型缓冲层表面生长一层二氧化硅;2)用全息曝光将光栅制作到半导体表面沉积的二氧化硅中;3)生长二氧化硅绝缘层并在脊条顶部开出窗口并制作电极;其量子阱材是InP/InGaAsP材料或InP/AlGaInA材料体系。激光器激射波长在1250-1700纳米之间。本发明使用普通全息曝光技术,制作出具有均匀一级光栅的边耦合半导体激光器。成本低且质量高。
搜索关键词: 耦合 半导体激光器 制造 方法
【主权项】:
边耦合半导体激光器的制造方法,其特征是在n型磷化铟衬底材料上外延生长n型缓冲层;1)在外延n型缓冲层表面生长一层二氧化硅;2)用全息曝光将光栅制作到半导体表面沉积的二氧化硅中:先用全息曝光的方式在光刻胶上曝光显影出光栅图形;然后用湿法或干法刻蚀,将光栅从光刻胶转移到二氧化硅层并去除残余光刻胶);之后用光刻方式在光刻胶上形成脊条波导;随后用湿法或干法刻蚀去掉未被光刻胶掩盖的脊条外二氧化硅,并暴露出将被大范围刻蚀的半导体表面;在不去掉光刻胶的情况下,使用纯氧气干法刻蚀,去掉一定厚度的侧壁光刻胶,之前被光刻胶遮盖的部分二氧化硅光栅图形暴露在外;此时形成由两层材料构成的掩膜版:光刻胶部分,掩盖脊条中心区域,两侧暴露的二氧化硅,作为侧壁光栅的掩膜版;应用干法刻蚀对半导体材料进行腐蚀即刻蚀半导体材料至有源区上部,之后去掉用作掩膜版的二氧化硅和光刻胶,形成带有侧壁光栅的脊条;3)生长二氧化硅绝缘层并在脊条顶部开出窗口并制作电极;首先用PECVD生长一层二氧化硅绝缘层做电绝缘材料。之后在脊条顶部打开窗口;之后镀上金属正电极,然后对衬底进行减薄,制备背电极;解理后得到激光器器件。
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