[发明专利]基于IBAD-MgO金属基带的简化隔离层及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310176921.9 申请日: 2013-05-14
公开(公告)号: CN103215546A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 李贻杰;刘林飞;肖桂娜 申请(专利权)人: 上海超导科技股份有限公司
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;H01B12/06;H01B13/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于IBAD-MgO金属基带的简化隔离层及其制备方法,在IBAD-MgO金属基带上,采用经简化了的单层CeO2隔离层结构代替复杂的LaMnO3/MgO、CeO2/MgO和CeO2/LaMnO3双层复合隔离层结构,简化了复合隔离层结构,减少了隔离层层数,大大降低了镀膜成本,工艺可重复性和可靠性高,所得薄膜的质量高、表面光滑、致密性好、结合力强,所得薄膜的颗粒大小均匀可控。
搜索关键词: 基于 ibad mgo 金属 基带 简化 隔离 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于IBAD‑MgO金属基带的简化隔离层,该简化隔离层沉积在IBAD‑MgO金属基带上,其特征在于,该简化隔离层为单层CeO2隔离层。
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