[发明专利]玻璃基板的测量工具在审
| 申请号： | 201310175939.7 | 申请日： | 2013-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN104154864A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 符岳衡 | 申请（专利权）人： | 汉达精密电子（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种玻璃基板的测量工具，其配合光学测量仪对玻璃基板进行测量，该玻璃基板的测量工具包括：本体，其主体形状为长方体，该本体具有竖直的台阶面，该台阶面为第一定位基准，且该本体上放置待测量的玻璃基板，该玻璃基板的一侧面贴齐该台阶面；定位柱，其垂直设于本体的上表面上，该定位柱为第二定位基准，所述玻璃基板的另一相邻侧面贴齐该定位柱；至少一滤光体，其沿玻璃基板的周边设于所述本体的上表面上，该滤光体为具有颜色的吸光材料。本发明玻璃基板的测量工具能够解决玻璃基板在用光学测量仪测量时因反光而造成的测点捕捉较困难的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 测量 工具 | ||
【主权项】：
一种玻璃基板的测量工具，其配合光学测量仪对玻璃基板进行测量，其特征在于，该玻璃基板的测量工具包括：本体，其主体形状为长方体，该本体具有竖直的台阶面，该台阶面为第一定位基准，且该本体上放置待测量的玻璃基板，该玻璃基板的一侧面贴齐该台阶面；定位柱，其垂直设于本体的上表面上，该定位柱为第二定位基准，所述玻璃基板的另一相邻侧面贴齐该定位柱；至少一滤光体，其沿玻璃基板的周边设于所述本体的上表面上，该滤光体为具有颜色的吸光材料。
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