[发明专利]基本为球形的多层结构的非破坏性和无接触的表征方法及相关装置无效

专利信息
申请号: 201310158613.3 申请日: 2009-12-23
公开(公告)号: CN103280248A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 朱利恩·邦谢;艾哈迈德·阿姆齐亚内;丹尼斯·穆尼耶;让-马克·布勒托 申请(专利权)人: 阿海珐核能公司
主分类号: G21C17/06 分类号: G21C17/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 田军锋;魏金霞
地址: 法国库*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种用于多层结构(1)的非破坏性和无接触的表征方法,多层结构(1)具有基本上的球形并包括由分界面分开的至少两层(2、3、4、5、6),该方法包括以下步骤:利用激光(11)在热弹性状态下局部地加热结构(1),使得结构(1)以非破坏性方式振动;测量结构(1)的振动模式的共振频率(Fexp);由结构(1)的共振频率(Fexp)导出关于结构(1)的完整性、或形状或机械特征的至少一个特征。
搜索关键词: 基本 球形 多层 结构 破坏性 接触 表征 方法 相关 装置
【主权项】:
一种用于表征多层结构(1)的非破坏性和无接触方法,所述多层结构基本上为球形几何形状,包括由分界面分开的至少两层(2、3、4、5、6),所述方法包括以下步骤:利用激光(11),在热弹性条件下局部地加热所述结构(1),使得所述结构(1)以非破坏性的方式被设成振动;测量所述结构(1)的振动模式的共振频率(Fexp);由所述结构(1)的所述共振频率(Fexp)推断与所述结构(1)的完整性、或几何形状或机械特性有关的至少一个特征,所述结构(1)内存在或不存在裂缝由所述共振频率(Fexp)推断,共振频率(Fexp)存在于至少一个预定频带(BI1至BI5)内表示所述结构(1)中存在裂缝,共振频率不存在于所述预定频带或每个预定频带中表示所述结构(1)中不存在裂缝。
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