[发明专利]用于确定测量电容的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310145391.1 申请日: 2013-04-24
公开(公告)号: CN103501169B 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 马丁·马拉特 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: H03K3/012 分类号: H03K3/012
代理公司: 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 代理人: 胡艳
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 用于确定测量电容(CM)的测量装置,具有以扫描频率(fA)振荡的时钟振荡器(7)、以依赖测量电容(CM)的测量频率振荡的测量振荡器(3),以及计数在给定数量的测量振荡中时钟振荡数量的边沿计数器(9),其中设置有用于测量精化的电路,其中用于测量精化的电路从最后扫描到的测量振荡的测量边沿开始工作,到紧随的后续时钟振荡的同相边沿停止工作。
搜索关键词: 用于 确定 测量 电容 装置 方法
【主权项】:
一种用于确定测量电容(CM)的测量装置,具有,‑时钟振荡器(7),其以扫描频率(fA)振荡并传送时钟信号(T),‑测量振荡器(3),其以测量频率振荡,该测量频率依赖于所述测量电容(CM),以及‑边沿计数器(9),其计数在给定数量的测量振荡中的时钟振荡数量,其中设置有用于测量精化的电路,其特征在于:用于测量精化的电路从最后扫描到的测量振荡的测量脉冲边沿开始工作,到后续时钟振荡的同相且紧随的边沿停止工作,其中所述用于测量精化的电路具有多个串联的延时元件(31,32,33,34),测量信号(M)输入其中,且在其输出端可以截出相互延时的测量信号(M)作为比较信号(S1,S2,S3,S4),且所述用于测量精化的电路具有多个比较器(K1,K2,K3,K4),在所述多个比较器的一输入端输入所述时钟信号(T),在另一输入端输入所述比较信号(S1,S2,S3,S4)中的一个。
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