[发明专利]半导体器件及其制造方法在审
| 申请号: | 201310128627.0 | 申请日: | 2013-04-15 |
| 公开(公告)号: | CN103378167A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
| 发明(设计)人: | 李正吉;林泰洙;林炫锡;尹基炫;韩赫;李明范 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | H01L29/788 | 分类号: | H01L29/788;H01L29/49;H01L21/336;H01L21/28;H01L27/115 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 翟然 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | 本发明提供一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底;第一多晶硅图案,在该衬底上;金属图案,在该第一多晶硅图案上;以及界面层,在该第一多晶硅图案与该金属图案之间。该界面层可包括从金属-硅氮氧化物层、金属-硅氧化物层以及金属-硅氮化物层的组中选择的至少之一。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:衬底;第一多晶硅图案,在该衬底上;金属图案,在该第一多晶硅图案上;以及界面层,在该第一多晶硅图案与该金属图案之间,其中,该界面层包括从金属-硅氮氧化物层、金属-硅氧化物层以及金属-硅氮化物层的组中选择的至少之一。
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