[发明专利]一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法无效

专利信息
申请号: 201310127204.7 申请日: 2013-04-12
公开(公告)号: CN103234674A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 王岩;赵明;史月;付振宪 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01L3/00 分类号: G01L3/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,涉及测量技术领域,本发明为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题。步骤如下:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;给气浮台一个很小的初始速度;待气浮台转动到近四分之一后,光栅测角程序每隔时间t0取一个点,连续取9次,记为βi(i=0,1,…,8);计算干扰力矩M1,其中J为事先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;待气浮台分别转动到近二分之一、四分之三、一周后,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M2,M3,M4;综合求得干扰力矩本发明所述的大惯量单轴气浮台高精度测试方法,计算简单、成本低、误差较小、实用性强。
搜索关键词: 一种 惯量 单轴气 浮台 高精度 测试 方法
【主权项】:
1.一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,其特征在于:所述方法按照以下步骤来实现:步骤一:将气浮台调节平衡;步骤二:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;步骤三:给气浮台一个初始速度,初始速度的取值范围为0.001rad/s到0.004rad/s;步骤四:待气浮台的角度转动到四分之一后,光栅测角程序每隔时间t0记录光栅在上位机的转角位置,连续记录9次,记为βi(i=0,1,…,8),t0根据测角仪器的测量精度选取,βi表示角度值;步骤五:按照公式i=1,2,…,4计算干扰力矩M1,其中J为预先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;步骤六:气浮台继续旋转,待气浮台的角度分别转动到二分之一、四分之三、一周位置处,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M2,M3,M4;步骤七:综合求得干扰力矩M=M1+M2+M3+M44.]]>
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