[发明专利]一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法无效
申请号: | 201310127204.7 | 申请日: | 2013-04-12 |
公开(公告)号: | CN103234674A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 王岩;赵明;史月;付振宪 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01L3/00 | 分类号: | G01L3/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 杨立超 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: |
一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,涉及测量技术领域,本发明为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题。步骤如下:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;给气浮台一个很小的初始速度;待气浮台转动到近四分之一后,光栅测角程序每隔时间t0取一个点,连续取9次,记为βi(i=0,1,…,8);计算干扰力矩M1,其中J为事先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;待气浮台分别转动到近二分之一、四分之三、一周后,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M2,M3,M4;综合求得干扰力矩 |
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搜索关键词: | 一种 惯量 单轴气 浮台 高精度 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,其特征在于:所述方法按照以下步骤来实现:步骤一:将气浮台调节平衡;步骤二:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;步骤三:给气浮台一个初始速度,初始速度的取值范围为0.001rad/s到0.004rad/s;步骤四:待气浮台的角度转动到四分之一后,光栅测角程序每隔时间t0记录光栅在上位机的转角位置,连续记录9次,记为βi(i=0,1,…,8),t0根据测角仪器的测量精度选取,βi表示角度值;步骤五:按照公式
i=1,2,…,4计算干扰力矩M1,其中J为预先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;步骤六:气浮台继续旋转,待气浮台的角度分别转动到二分之一、四分之三、一周位置处,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M2,M3,M4;步骤七:综合求得干扰力矩M = M 1 + M 2 + M 3 + M 4 4 . ]]>
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