[发明专利]基于电磁检测信号的区分内外壁缺陷的检测装置及方法无效
| 申请号: | 201310126754.7 | 申请日: | 2013-04-12 |
| 公开(公告)号: | CN103235036A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
| 发明(设计)人: | 陈金贵 | 申请(专利权)人: | 厦门艾帝尔电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01N27/90 | 分类号: | G01N27/90 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 361000 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | 本发明公开一种基于电磁检测信号的区分内外壁缺陷的检测方法,包括:步骤1:将被测工件以及检测线圈置于外部的局部磁饱和环境中;步骤2:通过微处理器产生一定频率的方波激励信号,并通过激励放大电路将方波激励信号进行功率放大,以对第一检测线圈和第二检测线圈进行激励;步骤3:组成差分模式的第一检测线圈和第二检测线圈构成差分电磁传感器,加载由激励放大电路进行功率放大后的方波激励信号;步骤4:通过差分信号放大电路拾取差分电磁传感器的信号,并进行适应性的放大;步骤5:采用积分处理电路将差分信号放大电路差分放大后的信号进行整流及积分处理,以判断被测工件的缺陷。本发明应用于区分内壁/外壁缺陷。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 电磁 检测 信号 区分 外壁 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】:
基于电磁检测信号的区分内外壁缺陷的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:将被测工件以及检测线圈置于外部的局部磁饱和环境中;其中,检测线圈具有两个,分别记为第一检测线圈和第二检测线圈,第一检测线圈和第二检测线圈组成差分模式;该外部磁饱和环境由永磁铁或直流磁化实现;步骤2:通过微处理器产生一定频率的方波激励信号,并通过激励放大电路将方波激励信号进行功率放大,以对第一检测线圈和第二检测线圈进行激励; 步骤3:组成差分模式的第一检测线圈和第二检测线圈构成差分电磁传感器,加载由激励放大电路进行功率放大后的方波激励信号;步骤4:通过差分信号放大电路拾取差分电磁传感器的信号,并进行适应性的放大; 步骤5:采用积分处理电路将差分信号放大电路差分放大后的信号进行整流及积分处理,通过整流将信号的正、负半波全部提取出来,通过积分处理将交流信号变为直流信号,以判断被测工件的缺陷:如果积分处理后的波形是一条水平直线,则被测工件没有缺陷;如果积分处理后的波形出现向上的抖动,则被测工件具有正面的缺陷;如果积分处理后的波形出现向下的抖动,则被测工件具有反面的缺陷。
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