[发明专利]一种变频器的老化测试平台无效
| 申请号： | 201310125864.1 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN103257290A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 佘丽萍;庞仁杰;周玲玲;陈海彬 | 申请（专利权）人： | 天津瑞能电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人： | 孙春玲 |
| 地址： | 300385 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种变频器的老化测试平台，包括待测变频器和变压器，待测变频器的转子侧接线端连接变压器的输入端，待测变频器的定子侧接线端连接变压器的输出端，电网进线输入至待测变频器，为待测变频器供电。本发明具有电路拓扑结构简单、控制策略更简化、能耗小及实验成本较低等突出优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 变频器 老化 测试 平台 | ||
【主权项】：
一种变频器的老化测试平台，其特征在于：包括待测变频器和变压器，所述待测变频器的转子侧接线端连接所述变压器的输入端，所述待测变频器的定子侧接线端连接所述变压器的输出端，电网进线输入至所述待测变频器，为所述待测变频器供电。
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