[发明专利]一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法无效

专利信息
申请号: 201310121467.7 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN103293468A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 周婧;陈雷;王硕;文治平;李学武;刘增荣;陈勋;齐畅;孙雷;陶娟娟 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 安丽
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法,注入系统包括控制芯片、待测器件和对比器件,待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接,控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块。控制芯片通过翻转配置码流的方式将故障注入进待测芯片中,同时运行待测器件和对比芯片,之后对比两者的运行结果,如果结果相同,证明待测器件没有发生错误,对该位错误不敏感,反之,证明待测器件发生错误,该位为错误敏感位。本发明可以方便的检测可编程逻辑器件的故障敏感度。
搜索关键词: 一种 便于 器件 故障 敏感度 测试 注入 系统 方法
【主权项】:
一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统,其特征在于包括控制芯片、待测器件和对比器件,待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接,控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块;待测器件故障注入模块通过翻转配置位的方式向待测器件中注入故障,对比器件中的配置不变;运行激励模块提供待测器件和对比器件的运行条件,使待测器件和对比器件在相同运行条件下同时运行;结果比较模块收集待测器件和对比器件的运行结果,并且进行比较,判断配置位的翻转是否对待测器件的功能造成影响;错误信息上传模块将结果比较模块收集的错误信息输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所,未经北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310121467.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top