[发明专利]半导体自动测试设备的时间量测模块及方法

摘要

本发明是关于一种半导体自动测试设备的时间量测模块及方法，时间量测模块包含多个时间量测单元，时间量测模块的量测方法是该些时间量测单元接收一参考时脉与一重置讯号，而该些时间量测单元分别包含一同步电路用以依据参考时脉与重置讯号产生一工作时脉与一致能讯号；一参考计数器电性连接于同步电路，参考计数器用以依据致能讯号开始计数，并依据工作时脉产生一参考计数讯号；以及一量测电路电性连接于同步电路与参考计数器，量测电路用以接收一外部待测讯号，并依据参考计数讯号处理外部待测讯号的时序。

主权项

一种半导体自动测试设备的时间量测模块，其特征在于，该时间量测模块包含多个时间量测单元，该些时间量测单元接收一参考时脉与一重置讯号，而该些时间量测单元分别包含：一同步电路，包含：一锁相回路，用以依据该参考时脉的相位产生一工作时脉；以及一致能计数器，用以依据该重置讯号开始计数，并依据该参考时脉而计数一延迟时间后产生一致能讯号；一参考计数器，电性连接于该同步电路，该参考计数器用以依据该致能讯号开始计数，并依据该工作时脉产生一参考计数讯号；以及一量测电路，电性连接于该同步电路与该参考计数器，该量测电路用以接收一外部待测讯号，并依据该参考计数讯号处理该外部待测讯号的时序。