[发明专利]基于赝热光二阶关联性的测距系统有效

专利信息
申请号: 201310101179.5 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN103163529A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 陈霄祥;朱俊;石剑虹;曾贵华 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 张伟锋;郑立
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于赝热光二阶关联性的测距系统,基于赝热光二阶关联性的测距系统包括赝热光源模块、分束器、探测模块、发射装置、接收装置和测距模块;所述测距模块采用符合测量和曲线拟合的测距方法进行测距。本发明提出的基于赝热光二阶关联性的测距系统,能够实现远距离、高精度的距离测量,具有高精度、无测量死区和良好的抗环境干扰特性。
搜索关键词: 基于 赝热光二阶 关联性 测距 系统
【主权项】:
一种基于赝热光二阶关联性的测距系统,包括赝热光源模块、分束器、探测模块、发射装置、接收装置和测距模块,所述探测模块包括探测器(1)、探测器(2),其中,所述赝热光源模块发出光束,所述光束经过所述分束器分成两路,其中一路被所述探测器(1)接收;另外一路通过所述发射装置准直扩束并照射目标物体,所述目标物体的反射回波光束被所述接收装置接收,并输入到所述探测器(2);所述探测器(1)输出参考信号的光电脉冲,所述探测器(2)输出测量信号的光电脉冲,所述参考信号的光电脉冲和测量信号的光电脉冲发送至所述测距模块,所述测距模块输出所述目标物体相对所述测距系统的距离。
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