[发明专利]一种发光二极管的结温测量方法及应用有效
| 申请号： | 201310099791.3 | 申请日： | 2013-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN103217229B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 招瑜;钟文姣;魏爱香;刘俊;黄智灏;赵定健;黎文辉;李耀鹏;王仲东 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510006 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种发光二极管的结温测量方法及应用，结温测量方法包括以下步骤测试不同温度下发光二极管器件中半导体材料的电阻与温度的定标关系；在发光二极管工作时监测半导体材料的电阻变化，并利用定标关系得到发光二极管工作时的结区温度，所得温度即为所要测量的发光二极管结温。所述测温方法应用于垂直结构或平面结构的发光二极管芯片结温测量；或应用于正装或倒装的发光二极管芯片结温测量。该发明可使用成本较低的普通测量装置简单高效的获取LED的结温。由于只需一次定标测量，测量误差小；操作简单易行；仅需常规的电学测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 测量方法 应用 | ||
【主权项】：
一种发光二极管的结温测量方法，其特征在于，包括以下步骤：测试不同温度下发光二极管器件中半导体材料的电阻与温度的定标关系；在发光二极管工作时监测半导体材料的电阻变化，并利用定标关系得到发光二极管工作时的结区温度，所得温度即为所要测量的发光二极管结温；所述发光二极管中半导体材料电阻定标包括以下步骤：S11.对发光二极管进行电极的焊线和封装，引出第一N型电极、第二N型电极和第一P型电极；S12.将步骤S11处理后的发光二极管放置在温度可控的鼓风干燥箱内，设定鼓风干燥箱的温度，测量此时第一N型电极和第二N型电极两端的电阻；S13.改变鼓风干燥箱内的温度，记录不同温度下发光二极管的N型半导体材料的电阻值，从而获取发光二极管半导体材料的电阻‑温度的变化曲线；即发光二极管中半导体材料电阻定标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东工业大学，未经广东工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310099791.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
