[发明专利]TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法在审
| 申请号： | 201310096550.3 | 申请日： | 2013-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN104062777A | 公开（公告）日： | 2014-09-24 |
| 发明（设计）人： | 周明杰;王永清 | 申请（专利权）人： | 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤：采用开关电源以周期T对所述TFT-LCD屏幕供电和断电；其中，周期T为8-12秒；检测所述TFT-LCD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是，则在常温下采用所述开关电源对所述TFT-LCD屏幕连续供电；将连续供电中的TFT-LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试，达到测试时间阈值后关闭开关电源；检测进行湿热测试后的TFT-LCD屏幕是否正常，若是，则将所述TFT-LCD屏幕在常温下进行冷却，并对冷却后的TFT-LCD屏幕进行检测及记录检测结果。从而能够快速测试出TFT-LCD屏幕在经过长期使用后是否会出现亮线缺陷，进而达到测试TFT-LCD屏幕的目的。 | ||
| 搜索关键词： | tft lcd 屏幕 缺陷 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种TFT‑LCD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤：采用开关电源以周期T对所述TFT‑LCD屏幕供电和断电；其中，周期T为8‑12秒；检测所述TFT‑LCD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是，则在常温下采用所述开关电源对所述TFT‑LCD屏幕连续供电；将连续供电中的TFT‑LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试，达到测试时间阈值后关闭开关电源；检测进行湿热测试后的TFT‑LCD屏幕是否正常，若是，则将所述TFT‑LCD屏幕在常温下进行冷却，并对冷却后的TFT‑LCD屏幕进行检测及记录检测结果。
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