[发明专利]主板发光二极管测试系统及方法无效
申请号: | 201310095836.X | 申请日: | 2013-03-25 |
公开(公告)号: | CN104076262A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 李岩 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种主板发光二极管测试方法包括:分别将待测发光二极管在主板上的原始位置及与该原始位置对应的显示位置输出至主板和用于控制透明显示屏显示的显示控制单元;接收原始位置并根据该原始位置点亮对应的发光二极管;接收显示位置并根据该显示位置控制透明显示屏在相应位置显示一标识,其中,显示标识的位置在垂直于透明显示屏的方向与对应的原始位置的发光二极管重合;根据被检测的发光二极管是否被点亮判断该发光二极管是否工作正常。本发明还提供了一种主板发光二极管测试系统。 | ||
搜索关键词: | 主板 发光二极管 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种主板发光二极管测试系统,该主板发光二极管测试系统包括一主板、一控制器及一透明显示屏,控制器通过IC总线与主板及透明显示屏连接,主板上包括多个发光二极管,透明显示屏与主板的大小相等,并与主板正对,控制器包括存储单元、输出单元及显示控制单元,存储单元存储有待测发光二极管在主板上的原始位置及与原始位置对应的显示于透明显示屏上的显示位置,输出单元用于分别将原始位置及与该原始位置对应的显示位置输出至主板和显示控制单元,主板接收原始位置并根据该原始位置点亮对应的发光二极管,显示控制单元接收显示位置并根据该显示位置控制透明显示屏在相应位置显示一标识,显示标识的位置在垂直于透明显示屏的方向与对应的原始位置的发光二极管重合。
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