[发明专利]基于ChipScope的EDA调试过程辅助分析装置无效
申请号: | 201310078116.2 | 申请日: | 2013-03-12 |
公开(公告)号: | CN103150436A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 潘梅勇;张爱科;余剑;孔轶艳;葛祥友;李瑞娟 | 申请(专利权)人: | 广西生态工程职业技术学院;柳州职业技术学院 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙) 45113 | 代理人: | 周小芹 |
地址: | 545004 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 一种基于ChipScope的EDA调试过程辅助分析装置,涉及一种EDA调试辅助分析工具,包括FPGA测试芯片及外围辅助电路,所述的FPGA测试芯片用于加载EDA调试过程中的测试程序;所述的外围辅助电路包括LED指示灯、测试引脚、存储芯片、配置芯片、拨码开关、电源以及JTAG接口,各外围辅助电路分别与FPGA测试芯片相连接。本发明能够直观观测到EDA调试过程中各测试引脚及测试点的信号真实的变化情况,能够对所测试的各信号点及引脚真实的物理信号进行测量,还能够为EDA调试提供对比性的测试结果验证,大幅度提高了EDA试验测试过程的精度及效率。 | ||
搜索关键词: | 基于 chipscope eda 调试 过程 辅助 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种基于ChipScope的EDA调试过程辅助分析装置,其特征在于:包括FPGA测试芯片及外围辅助电路,所述的FPGA测试芯片用于加载EDA调试过程中的测试程序;所述的外围辅助电路包括LED指示灯、测试引脚、存储芯片、配置芯片、拨码开关、电源模块,各外围辅助电路分别与FPGA测试芯片相连接。
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