[发明专利]阵列基板及其检测方法和检测装置有效
| 申请号： | 201310046771.X | 申请日： | 2013-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN103969853A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 冀新友;郭建 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1335;G02F1/1362;G02B5/20 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 张颖玲;程立民 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种阵列基板，包括设置在基板上的待检测结构，所述待检测结构的下方设置有用于检测待检测结构是否断开的附加层，所述附加层的颜色与待检测结构的颜色不同并且图案形状一致。本发明还提供了一种用于上述阵列基板的检测方法和检测装置。通过本发明的阵列基板及其检测方法和检测装置，可以实现对阵列基板生产过程中出现的断开型不良的早期检测，从而可以尽早实现不良原因的发现和消除，提高生产效率和产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 及其 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，包括设置在基板上的待检测结构，其特征在于，所述待检测结构的下方设置有用于检测待检测结构是否断开的附加层，所述附加层的颜色与待检测结构的颜色不同并且图案形状一致。
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