[发明专利]利用阵列连接器的拓扑现场测试器和利用阵列连接器的拓扑多波长现场测试器有效

专利信息
申请号: 201310039725.7 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103226056B 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: J.D.谢尔;S.戈德斯泰因;H.卡斯勒;J.萨林 申请(专利权)人: 弗兰克公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 马红梅,刘春元
地址: 美国华*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及利用阵列连接器的拓扑现场测试器和利用阵列连接器的拓扑多波长现场测试器。一种测试仪器包括在第一波长下的多个第一光信号源和分配器,所述分配器被耦合到所述多个第一光信号源以将所产生的信号供应给多光纤测试端口。可以提供附加的第二波长信号源,并且可以提供用于在被测试链路的第二端处使用的第二测试仪器,以实现光链路的测试。
搜索关键词: 利用 阵列 连接器 拓扑 现场 测试 波长
【主权项】:
一种光网络测试仪器,包括:在第一波长下的多个第一光信号源;以及分配器,其被耦合到所述多个第一光信号源以将所产生的信号供应给多光纤测试端口,其中,所述光网络测试仪器将功率/损耗测量功能与测量极性的能力相组合。
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