[发明专利]基于轴向偏焦的大型天线罩电性能补偿方法有效
申请号: | 201310030150.2 | 申请日: | 2013-01-25 |
公开(公告)号: | CN103094685A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 李鹏;许万业;仇原鹰;段宝岩;王从思;宋立伟;周金柱;邓坤;刘超 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01Q1/42 | 分类号: | H01Q1/42 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于轴向偏焦的大型天线罩电性能补偿方法,主要解决天线罩对天线电性能影响过大的问题。其技术方案是:根据口径场计算天线远场,绘制远场方向图并提取电性能指标;计算透过天线罩后的口径场;计算轴向偏焦的初始调整量;计算轴向偏焦时透过天线罩后的口径场;计算轴向偏焦前后带罩天线的远场,绘制远场方向图并提取电性能指标;对比无罩天线、轴向偏焦前后带罩天线的远场方向图和电性能指标,如满足天线的电性能要求,则输出无罩天线、轴向偏焦前后带罩天线的远场方向图和电性能指标及轴向偏焦量;否则,微调轴向偏焦量,并重复上述过程,直至电性能满足要求。本发明能有效改善带罩天线系统的电性能,可用于天线罩的分析与设计。 | ||
搜索关键词: | 基于 轴向 大型 天线罩 性能 补偿 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于轴向偏焦的大型天线罩电性能补偿方法,其特征在于包括如下步骤:(1)根据已知的天线口径场
计算天线的远场F(θ,φ),绘制远场方向图T1,并从远场方向图中提取电性能指标,即最大场强G1、左一副瓣L1和右一副瓣R1;(2)用传输线理论计算天线罩上各点处的透射系数
并计算透过天线罩后的口径场:
(3)根据天线罩的透射系数以及天线的结构形式,计算天线轴向偏焦的初始调整量df:对于单反射面天线,其初始调整量为:
其中ΔηT是透射系数的相位最大值与最小值之差,ξmax是抛物面口径张角;若计算出的df大于0.1λ,则令df等于0.1λ,λ是天线的波长,
其中f为天线工作频率,c为光速;对于双射面天线,其初始调整量的计算按以下两种方式进行:若调整馈源,按公式
进行计算,其中ξ′max是馈源对副反射面的张角;若计算出的df大于0.1λ,则令df等于0.1λ。若调整副反射面,按公式
进行计算,其中ξ″max是焦点对副反射面的张角;若计算出的df大于0.1λ,则令df等于0.1λ;(4)计算天线的轴向偏焦df造成的口径场的相位差Δψ,得到轴向偏焦时透过天线罩后的口径场:
(5)根据透过天线罩后的口径场
计算未轴向偏焦时带罩天线的远场F′(θ,φ),绘制远场方向图T2,并从该远场方向图中提取最大场强G2、左一副瓣L2、和右一副瓣R2这些电性能指标;(6)根据轴向偏焦时透过天线罩的后口径场
计算轴向偏焦时带罩天线的远场F″(θ,φ),绘制远场方向图T3,并从该远场方向图中提取最大场强G3、左一副瓣L3和右一副瓣R3这些电性能指标;(7)对比步骤(1)、(5)、(6)中得到的远场方向图T1、T2、T3和相应的电性能指标,计算加罩后对天线电性能指标的改变量,以及计算轴向偏焦后对带罩天线系统的电性能指标的改变量;(8)根据天线设计的电性能要求,判断加罩并且轴向偏焦后系统的电性能指标改变量是否满足预设要求,如果满足,则输出步骤(1)、(5)、(6)中得到的远场方向图T1、T2、T3和相应的电性能指标;否则,对轴向偏焦量df进行微调,并重复步骤(4)到步骤(8),直至结果满足要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310030150.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。