[发明专利]用于实时监测IGBT器件的操作状态的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201310009834.4 申请日: 2013-01-11
公开(公告)号: CN103207362A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: V.孙达拉莫尔蒂;A.海内曼;E.比安达;F.泽弗卢;G.克纳普;I.尼斯托尔;R.布洛赫 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张金金;朱海煜
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及用于实时监测IGBT器件的操作状态、特别地用于确定IGBT器件的结温的系统,包括:微分单元,用于接收要测量的IGBT器件的栅极-发射极电压特性以及用于微分该栅极-发射极电压特性来获得与IGBT器件的关断期期间的Miller平台期所形成的边缘相关的脉冲;计时器单元,用于测量获得的指示IGBT器件的关断期期间的Miller平台期的起始和结束的脉冲之间的时间延迟;结温计算单元,用于基于测量的时间延迟确定IGBT器件的结温。
搜索关键词: 用于 实时 监测 igbt 器件 操作 状态 系统 方法
【主权项】:
一种用于确定IGBT器件(12)的结温和/或剩余寿命的系统(20),包括:-微分单元(21),用于接收要测量的所述IGBT器件(12)的栅极‑发射极电压(VGE)特性以及用于微分所述栅极‑发射极电压(VGE)特性来获得与所述IGBT器件(12)的关断期期间的Miller平台期所形成的边缘相关的脉冲;-计时器单元(23),用于测量获得的指示所述IGBT器件(12)的关断期期间所述Miller平台期的起始和结束的脉冲之间的时间延迟(tdelay);-结温计算单元(25),用于基于测量的时间延迟(tdelay)确定所述IGBT器件(12)的结温和/或剩余寿命。
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