[发明专利]一种CSAMT纵向分辨率判定和一维真电阻率精细反演方法有效
| 申请号： | 201310002346.0 | 申请日： | 2013-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN103064122A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 闫述 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;G01R27/02 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 卢亚丽 |
| 地址： | 212013 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CSAMT纵向分辨率判定和一维真电阻率精细反演方法，根据两频点间的线性差值和中间点的误差分析来判别表示纵向分辨率的频点数上限，将地质体的结构、埋深、与围岩电阻率的差异，电磁噪声、接收机灵敏度等因素纳入频点和纵向分辨率的关系中，合理控制频点密度；采用频点数上限作为一维反演地层层数上限的反演结果，形成精细的电阻率-深度剖面。达到了精细勘探的目的。本发明可推广应用于高密度电阻率、大地电磁和时间域瞬变电磁等电和电磁法勘探中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 csamt 纵向 分辨率 判定 一维真 电阻率 精细 反演 方法 | ||
【主权项】：
一种CSAMT纵向分辨率判定和一维真电阻率精细反演方法，其特征在于包括以下步骤：第一步，以频点数为标志的纵向分辨率上限判别；第二步：真电阻率一维精细反演两个步骤。
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