[发明专利]充电构件、电子照相设备和处理盒有效
| 申请号： | 201280070366.5 | 申请日： | 2012-10-04 |
| 公开（公告）号： | CN104145220B | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 铃木敏郎;永田之则;原田昌明 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G03G15/02 | 分类号： | G03G15/02;F16C13/00 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种充电构件，其在防止调色剂和添加剂附着至充电构件的弹性层的表面并且防止弹性层的接触部分永久变形的同时能够使被充电体稳定地充电。所述充电构件具有芯棒和导电性弹性层。弹性层的通用硬度从弹性层的表面朝向深度方向减小。沿充电构件的长度方向在中央部与在两端部弹性层的通用硬度之间的关系为，在弹性层的表面处，两端部的通用硬度比中央部的通用硬度高，并且在从弹性层的表面的t(μm)的深度处，中央部的通用硬度比两端部的通用硬度高。 | ||
| 搜索关键词： | 充电 构件 电子 照相 设备 处理 | ||
【主权项】：
一种充电构件，其包括：芯轴；和导电性弹性层，其特征在于，所述弹性层具有从其表面朝向深度方向减小的通用硬度；和在沿所述充电构件的长度方向的中央部和两端部，所述弹性层的通用硬度满足以下关系：关于所述弹性层的表面，所述两端部的通用硬度比所述中央部的通用硬度高；和关于从所述弹性层的表面具有tμm的深度的位置，所述中央部的通用硬度比所述两端部的通用硬度高；所述深度t为5μm以上且50μm以下。
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