[发明专利]用于确定离子的迁移率的方法和装置有效
| 申请号： | 201280064715.2 | 申请日： | 2012-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN104024844A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 理查德·科诺陈缪斯 | 申请（专利权）人： | 托夫沃克股份公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G06F17/00;H01J49/00 |
| 代理公司： | 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 | 代理人： | 赵飞;郭红丽 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定离子迁移率的方法和装置(1)。此方法包括如下步骤：使用受控于调制函数的离子门(2)调制离子束(6)，从而生成调制离子束；导引调制离子束穿过漂移区域(3)；在调制离子束已通过漂移区域(3)后测量调制离子束的信号；以及计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率。该装置(1)包括离子门(2)；可导引调制离子束穿过其中的漂移区域(3)；在调制离子束已经通过漂移区域(3)后可测量调制离子束信号的检测器(4)；以及可计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率的计算单元(5)。调制函数的自相关性是双值函数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 离子 迁移率 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于确定离子的迁移率的方法，包括以下步骤：a.使用受控于调制函数的离子门(2)调制离子束(6)，以产生调制离子束；b.将所述调制离子束导引穿过漂移区域(3)；c.在所述调制离子束已经通过所述漂移区域(3)之后，测量所述调制离子束的信号；d.计算所述调制函数与所述信号的相关性，以确定所述离子的所述迁移率；其特征在于，所述调制函数的自相关性是双值函数。
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