[发明专利]用于确定组织状态的检测装置

摘要

本发明涉及一种用于确定组织的状态的检测装置(30)。所述检测装置(30)包括荧光谱提供单元(2、3)，所述荧光谱提供单元用于提供所述组织的荧光谱；微分单元(4)，所述微分单元用于生成所述荧光谱的导数；以及组织状态确定单元(5)，所述组织状态确定单元用于根据所述导数来确定所述组织的状态。这样，即使在所述荧光谱中几乎看不到或根本看不到与所述组织的状态相关的特征，也允许确定所述组织的状态。因此能够提高确定所述组织的状态的可靠性，所述组织的状态为，例如所述组织是否是癌性的。

主权项

一种用于确定组织的状态的检测装置，所述检测装置(30)包括：‑荧光谱提供单元(2、3、23、28)，其用于提供所述组织(21)的天然荧光谱，‑微分单元(4)，其用于生成所述荧光谱的导数，‑组织状态确定单元(5)，其用于根据所述导数来确定所述组织的状态，其中，所述组织状态确定单元(5)适于基于仅在600nm到700nm的波长范围中的导数来确定所述组织的状态，其中，所述组织状态确定单元(5)适于确定所述组织处于第一状态还是处于第二状态，其中，所述第一状态与第一波长相关，并且所述第二状态与第二波长相关，其中，所述组织状态确定单元(5)适于基于第一度量来确定所述组织包括所述第一状态还是包括所述第二状态，所述第一度量取决于在所述第一波长附近的第一波长范围之内的波长处的导数以及在所述第二波长附近的第二波长范围之内的波长处的导数，并且其中，所述组织状态确定单元(5)适于基于如下中的至少一项来确定所述第一度量：i)a)小于所述第一波长且处在所述第一波长范围之内的波长处的导数与b)大于所述第一波长且处在所述第一波长范围之内的波长处的导数之间的第一差，ii)a)小于所述第二波长且处在所述第二波长范围之内的波长处的导数与b)大于所述第二波长且处在所述第二波长范围之内的波长处的导数之间的第二差。