[发明专利]磁性体评价装置及其评价方法有效
| 申请号： | 201280054340.1 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103930775B | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 驹井正;铃木裕;吉田清;室田浩平;石黑国朋;小池泰久;茂木秀夫 | 申请（专利权）人： | 日产自动车株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;H01F41/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种能够以更为简单的结构检测磁体中产生的涡电流，来评价磁体的磁性体评价装置。磁性体评价装置(1)的特征在于，具有：励磁线圈(12)，其产生相当于以下区域的范围的大小的交变磁场，该区域至少包括隔着绝缘物(103)将多个磁片(101)接合而成的磁体(102)中的相邻的两个磁片(101)；以及检测线圈(13)，其用于检测由于交变磁场而在磁片(101)中产生的涡电流，检测线圈(13)的线圈直径比一个磁片(101)在多个磁片(101)的排列方向上的长度小。 | ||
| 搜索关键词： | 磁性 评价 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种磁体评价装置，其特征在于，具有：励磁线圈，其产生相当于以下区域的范围大小的磁场，该区域至少包括隔着绝缘物将多个磁片接合而成的磁体中的一个磁片和这个磁片与相邻的其它磁片之间的绝缘物；以及检测线圈，其线圈直径比一个上述磁片在上述多个磁片的排列方向上的长度小。
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