[发明专利]利用再生长沟道的GaN垂直JFET的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201280044944.8 申请日: 2012-08-03
公开(公告)号: CN103875075B 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 伊舍克·C·克孜勒亚尔勒;聂辉;安德鲁·P·爱德华兹;林达·罗马诺;大卫·P·布尔;理查德·J·布朗;托马斯·R·普朗蒂 申请(专利权)人: 阿沃吉有限公司
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 顾晋伟,吴鹏章
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种垂直的第III族氮化物场效应晶体管,包括包含第一第III族氮化物材料的漏极;电耦合到漏极的漏极接触部;以及耦合到漏极的包含第二第III族氮化物材料的漂移区。该场效应晶体管还包括耦合到漏极并且沿垂直方向与漏极相邻布置的包含第三第III族氮化物材料的沟道区;至少部分包围沟道区的栅极区。该场效应晶体管还包括耦合到沟道区的源极;以及电耦合到源极的源极接触部。沟道区沿垂直方向布置在漏极与源极之间使得在垂直的第III族氮化物场效应晶体管的操作期间的电流流动沿着垂直方向,并且沟道区沿栅极区的第二表面的至少一部分延伸。
搜索关键词: 利用 再生 沟道 gan 垂直 jfet 方法 系统
【主权项】:
一种用于制造垂直JFET的方法,所述方法包括:提供GaN衬底;形成耦合到所述GaN衬底的n型GaN外延层;形成耦合到所述n型GaN外延层的p型GaN外延层,其中所述p型GaN外延层的特征在于p型掺杂剂浓度;移除所述p型GaN外延层的至少一部分以露出所述n型GaN外延层的一部分;形成耦合到所述p型GaN外延层的至少一部分和所述n型GaN外延层的n型GaN沟道区;形成耦合到所述n型GaN沟道区的n型GaN外延结构;形成电耦合到所述GaN衬底的第一金属结构;形成电耦合到所述p型GaN外延层的第二金属结构;以及形成电耦合到所述n型GaN外延结构的第三金属结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿沃吉有限公司,未经阿沃吉有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280044944.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top