[发明专利]粒子的光学检测及分析有效
| 申请号： | 201280038391.5 | 申请日： | 2012-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN103890561A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | R.J.G.卡尔;J.P.霍尔;J.B.K.史密斯 | 申请（专利权）人： | 纳米观测有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/14;G01N21/49 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马红梅;刘春元 |
| 地址： | 英国威*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 本发明提供了一种分析包括次微米粒子的样本的方法，该方法包括：通过纳米粒子跟踪分析在该样本中确定关于粒子大小及粒子数量的第一信息；通过动态光散射在该样本中确定关于粒子的平均粒子大小的第二信息；从该第一信息中确定代表所检测粒子对于可通过动态光散射获得的结果的理论影响的第三信息；并且使用该第三信息调整该第二信息以产生代表关于平均粒子大小的所调整信息的第四信息。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 光学 检测 分析 | ||
【主权项】：
一种分析包括次微米粒子的样本的方法，该方法包括：通过纳米粒子跟踪分析在该样本中确定关于粒子大小及粒子数量的第一信息；通过动态光散射在该样本中确定关于粒子的平均粒子大小的第二信息；从该第一信息中确定代表所检测粒子对于可通过动态光散射获得的结果的理论影响的第三信息；并且使用该第三信息调整该第二信息以产生代表关于平均粒子大小的所调整信息的第四信息。
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