[发明专利]用于真实性检查传感器信号的电路装置和方法

摘要

本发明涉及用于真实性检查传感器信号（12.1、22.1）的电路装置（1）和方法，所述传感器信号能够由至少两个独立的传感器元件（12、22）来产生，所述电路装置具有至少一个分析和控制单元（14、24），所述至少一个分析和控制单元通过至少一个接口单元（14.2、24.2）接收所述传感器信号（12.1、22.1）并且分析所接收的传感器信号（12.1、22.1）来产生传感器数据（SD1、SD2）。依据本发明，第一分析和控制单元（14）接收第一传感器元件（12）的并且由传感器信号（12.1）产生第一传感器数据（SD1），其中，第一分析和控制单元（14）将所产生的第一传感器数据（SD1）通过至少一个接口单元（14.2）提供给第二分析和控制单元（24），所述第二分析和控制单元接收第二传感器元件（22）的所述传感器信号（22.1）并且分析之以便产生第二传感器数据（SD2），其中，所述第二分析和控制单元（24）将所产生的第二传感器数据（SD2）与所产生的第一传感器数据（SD1）作相互比较并且检验真实性。

主权项

一种用于真实性检查传感器信号的电路装置，所述传感器信号能够由至少两个独立的传感器元件(12、22)来产生，所述电路装置具有至少一个分析和控制单元(14、14′、24、24′)，所述至少一个分析和控制单元通过至少一个接口单元(14.2、24.2)接收所述传感器信号(12.1、22.1)并且分析所接收的传感器信号(12.1、22.1)来产生传感器数据(SD1、SD2)，其特征在于，第一分析和控制单元(14、14′)接收第一传感器元件(12)的传感器信号(12.1)并且分析之以便产生第一传感器数据(SD1)并且将所产生的第一传感器数据(SD1)通过至少一个接口单元(14.2)提供给第二分析和控制单元(24、24′)，所述第二分析和控制单元接收第二传感器元件(22)的所述传感器信号(22.1)并且分析之以便产生第二传感器数据(SD2)，其中，所述第二分析和控制单元(24、24′)将所产生的第二传感器数据(SD2)与所产生的第一传感器数据(SD1)作相互比较并且检验真实性，其中，所述第一传感器元件(12)和所述第一分析和控制单元(14、14′)形成第一传感器单元(10、10′)并且所述第二传感器元件(22)和所述第二分析和控制单元(24、24′)形成第二传感器单元(20、20′)。