[发明专利]近场毫米波成像有效
| 申请号： | 201280037941.1 | 申请日： | 2012-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN103718377A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | A·巴巴卡尼;刘兑现;S·K·雷诺兹;M·A·桑度莱努 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | H01Q3/00 | 分类号： | H01Q3/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 张亚非;于静 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于近场毫米波成像的系统和方法，具体而言，提供了通过使用子波长探针元件扫描物体并捕捉和测量反射能的相位和强度以产生图像来实现子波长分辨率成像的近场毫米波成像系统和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 近场 毫米波 成像 | ||
【主权项】：
一种近场成像系统，包括：扫描设备，其适合于通过在给定工作频率上发射具有某一波长的电磁能，捕捉从目标物体反射的电磁能，以及测量所述反射能的强度和相位来扫描目标物体的表面，其中所述扫描设备包括具有子波长尺度的探针，该探针用于发射所述电磁能以及捕捉所述反射能；成像器，其使用所述反射能的所述测量的强度和相位来呈现所述目标物体的图像，其中所述图像被呈现为具有子波长分辨率。
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