[发明专利]借助发光磷光体化合物验证物品的方法和设备有效
申请号: | 201280034901.1 | 申请日: | 2012-07-12 |
公开(公告)号: | CN103649729B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | W.R.拉波波尔特;J.凯恩;C.劳 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔国际公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G07D7/06;C09K11/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵苏林;万雪松 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于物品验证的方法和设备,其包括激励辐射发生器,其将该物品的一定区域曝露于激励辐射;和至少两个辐射检测器,其检测来自所述区域的处于第一谱带中的和处于不与该第一谱带交叠的第二谱带中的发射辐射。该第一谱带对应于发射离子的第一发射子谱带,且该第二谱带对应于相同的发射离子的第二发射子谱带。处理系统计算比较值,该值代表了处于第一谱带中的发射辐射的第一强度与处于第二谱带中的发射辐射的第二强度之间的数学关系式(例如比率),并且确定该比较值是否与验证参数相符。当该比较值符合验证参数时,该物品被鉴定为是可信的。 | ||
搜索关键词: | 借助 发光 磷光体 化合物 验证 物品 方法 设备 | ||
【主权项】:
用于验证物品的方法,所述方法包括如下步骤:使所述物品的一定区域曝露于激励辐射;检测来自该物品所述区域的处于第一谱带中的和处于不与所述第一谱带交叠的第二谱带中的发射辐射,其中所述第一谱带对应于发射离子的第一发射子谱带,且所述第二谱带对应于所述发射离子的第二发射子谱带;计算比较值,该值代表了处于第一谱带中的发射辐射的第一强度与处于第二谱带中的发射辐射的第二强度之间的数学关系式;以及确定所述比较值是否与验证参数相符;其中所述第一谱带和所述第二谱带对应于单一离子在替代到选自以下的主晶格材料内之后的发射谱带:氧化物、氟化物、氧硫化物、卤化物、硼酸盐、硅酸盐、五倍子酸盐、磷酸盐、钒酸盐、卤氧化物、铝酸盐、钼酸盐、钨酸盐、石榴石和铌酸盐;其中所述单一离子选自以下元素:钕、钬和铒;其中钕可以至多1.5原子%的相对低的百分比替代,钬可以至多20原子%的中等百分比替代,而铒可以至多60原子%的相对高的百分比替代,其中主晶格材料可以被替代的离子数等于100原子%。
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