[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201280029271.9 申请日: 2012-08-29
公开(公告)号: CN103635999B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 山下裕贵;油井隆;川端毅;萩原清己;横山贤司 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/12;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 樊建中
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的半导体装置,在具有电极(20a)以及(20b)的芯片(6)的外缘设置扩展部(1)而成的扩展型半导体芯片(31)上,搭载具有电极(24)的芯片(5)。电极(20a)和电极(24)通过导电构件(8)而电连接。从芯片(6)上的导电构件(8)的配置区域的外侧遍及到扩展部(,1)上而形成有重新布线构造(2)。在扩展部(1)上形成有经由重新布线构造(2)与电极(20b)电连接的连接端子(21)。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,具备:基台,其具有第1电极;第1半导体芯片,其配置在所述基台上的形成有所述第1电极的面上,并且具有第2电极;扩展部,其设置为从所述第1半导体芯片的外缘向外侧方延伸,并且与所述第1半导体芯片一起构成扩展型半导体芯片;第2半导体芯片,其具有第3电极,并且配置在所述扩展型半导体芯片上,使得形成有所述第3电极的面与所述第1半导体芯片中的形成有所述第2电极的面相对置;第1导电构件,其将所述第2电极与所述第3电极相连接;重新布线构造,其从所述第1半导体芯片上的所述第1导电构件的配置区域的外侧遍及到所述扩展部上而形成;连接端子,其设置在所述扩展部上,并且经由所述重新布线构造与所述第2电极中没有与所述第1导电构件连接的电极相连接;和第2导电构件,其将所述第1电极与所述连接端子相连接,所述重新布线构造具有将所述第2电极与所述连接端子相连接的重新布线、和覆盖所述重新布线的层间膜,所述层间膜包括第1层和第2层,所述重新布线设置在所述第1层与所述第2层之间,所述重新布线构造中包括的所述重新布线、所述第1层以及所述第2层,至少避开所述第1导电构件的配置区域而配置,由此,所述重新布线构造在所述第1导电构件的配置区域具有开口。
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