[发明专利]微颗粒捕集过滤器状态检测装置有效

专利信息
申请号: 201280028757.0 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN103620169A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 山川高史;石井泰博;箕浦大祐 申请(专利权)人: 揖斐电株式会社
主分类号: F01N3/023 分类号: F01N3/023;F01N9/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的微颗粒捕集过滤器状态检测装置具备:为了精确地进行对排气中的微颗粒进行捕集的过滤器的状态判定的、第一压力检测单元,检测在排气流通路径上的过滤器的上游侧产生的第一压力;第二压力检测单元,检测在排气流通路径上的过滤器的下游侧产生的第二压力;第一傅立叶变换单元,对由第一压力检测单元检测出的第一压力值进行傅立叶变换;第二傅立叶变换单元,对由第二压力检测单元检测出的第二压力值进行傅立叶变换;比较单元,将由第一傅立叶变换单元得到的处于零频率的频谱强度和/或相位以及处于预定频率的频谱强度和/或相位、与由第二傅立叶变换单元得到的处于零频率的频谱强度和/或相位以及处于预定频率的频谱强度和/或相位进行比较;以及过滤器状态判定单元,基于由比较单元得到的比较结果来判定过滤器的状态。
搜索关键词: 颗粒 过滤器 状态 检测 装置
【主权项】:
一种微颗粒捕集过滤器状态检测装置,其对过滤器的状态进行检测,该过滤器对包含在流通于排气流通路径中的排气中的微颗粒进行捕集,其特征在于,所述微颗粒捕集过滤器状态检测装置具备:第一压力检测单元,检测在所述排气流通路径上的所述过滤器的上游侧产生的第一压力;第二压力检测单元,检测在所述排气流通路径上的所述过滤器的下游侧产生的第二压力;以及过滤器状态判定单元,判定所述过滤器的状态,所述过滤器状态判定单元由演算部和存储部构成,将由所述第一压力检测单元及第二压力检测单元检测出的所述第一压力及第二压力的值存储在所述存储部,将由所述第一压力检测单元及第二压力检测单元检测出的所述第一压力及第二压力的值从所述存储部发送至所述演算部,并且,在所述演算部中,通过利用比较单元来判定所述过滤器的状态,其中,该比较单元将由第一傅立叶变换单元及第二傅立叶变换单元得到的处于零频率的频谱强度和/或相位、以及处于预定频率的频谱强度和/或相位进行比较,该第一傅立叶变换单元及第二傅立叶变换单元对所述第一压力及第二压力的值分别进行傅立叶变换。
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