[发明专利]光子能谱装置、相应的方法和该装置的用途有效
| 申请号： | 201280019808.3 | 申请日： | 2012-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN103492908B | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 埃里克·布利亚 | 申请（专利权）人： | 阿海珐核能公司 |
| 主分类号： | G01T1/40 | 分类号： | G01T1/40;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 归莹,张颖玲 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种光子能谱装置（2），所述光子能谱装置（2）包括至少一个能够检测光子的传感器（12）；至少两个具有不同的基准谱线的光发射校准源（S1，S2）；以及处理器件（8，16），所述处理器件（8，16）能够针对所述或每个传感器（12）提供与所述或每个传感器（12）对产品（4）在一时段内的辐射所做出的测量结果相对应的测量能谱，并且基于所述或每个测量能谱，根据对应于所述或每个校准源（S1，S2）的测得的特征谱线来建立净修正能谱。所述或每个校准源（S1，S2）位于所述或每个传感器（12）的外部。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 装置 相应 方法 用途 | ||
【主权项】：
一种光子能谱装置(2)，包括：至少一个传感器(12)，所述至少一个传感器(12)能够检测光子；至少两个校准源(S1，S2)，所述至少两个校准源(S1，S2)具有不同的基准谱线；以及处理器件(8，16)，所述处理器件(8，16)能够针对所述至少一个传感器中的每个传感器(12)提供与该传感器(12)对产品(4)在一时段内的辐射所做出的测量结果相对应的测量能谱，并且能够基于每个测量能谱通过再校准该测量能谱来建立净修正能谱，从而使得：对于每个校准源(S1，S2)而言，由每个传感器(12)测得的特征谱线与该校准源(S1，S2)的基准谱线一致。
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