[发明专利]电子设备和电子设备的控制方法有效
申请号: | 201280016679.2 | 申请日: | 2012-04-03 |
公开(公告)号: | CN103460162A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 齐藤浩二;藤冈章纯;尾崎正实;柳俊洋 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G02F1/133;G09G3/20;G09G3/30;G09G3/36;H01L51/50 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 电子设备(100)具备:显示装置(1)、检测输入的检测装置(20)、状态变化检测部(31)以及控制部。控制部控制检测装置(20),使得在由状态变化检测部(31)检测到与检测精度的提高相伴的状态变化的情况下,非扫描期间的检测动作的次数增加,在检测到与检测精度的降低相伴的状态变化的情况下,非扫描期间的检测动作的次数减少。由此能降低功耗并且提高检测装置的检测精度。 | ||
搜索关键词: | 电子设备 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种电子设备,其特征在于,具备:显示装置,其交替地重复对多个像素供应图像数据的扫描期间和不供应上述图像数据的非扫描期间,重复进行上述像素所保持的图像数据的改写;检测装置,其检测输入;状态变化检测部,其检测上述输入方面要求的上述检测装置的检测精度变化时的状态变化;以及控制部,其控制上述检测装置,使得在上述显示装置的非扫描期间进行针对上述输入的检测动作,在上述输入方面要求提高上述检测装置的检测精度时的状态变化被上述状态变化检测部检测到的情况下,上述非扫描期间的检测动作的次数增加,另一方面,在上述输入方面要求降低上述检测装置的检测精度时的状态变化被上述状态变化检测部检测到的情况下,上述非扫描期间的检测动作的次数减少。
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