[发明专利]用于借由中子探询检测核材料的方法以及有关检测系统

摘要

本发明涉及用于检测通过中子探询以相关联的粒子管来分析的物体中的核材料的方法，其中该方法包括通过至少一个检测器像素矩阵的检测器像素来检测同时发生的脉冲的步骤，其中同时发生的脉冲的检测的步骤导致反应在核材料中发生的裂变反应的事件的形成，其中该方法包括在已经检测到同时发生的脉冲的像素中搜索邻近像素，将邻近的像素分组成邻近像素组，计数已经检测到同时发生的脉冲的像素和/或邻近像素组，并且如果计数至少三个像素和/或邻近像素组，则确认发生的事件。

主权项

一种用于根据计数在物体的中子探询之后在持续时间ΔT内发生在物体内的事件来检测所述物体中的核材料的方法，其中，所述方法包括使用相关联的粒子管(E1，E2)来检测同时发生的脉冲的多个步骤，其中，相关联的粒子与快中子的发射在与发射快中子的方向相反的方向上同时被发射，其中，在从与相关联的粒子的检测时刻相关联的时间参考(T0)计数的持续持续时间δT内执行检测同时发生的脉冲的步骤，其特征在于，针对同时发生的脉冲的每个检测，其包括：‑(E3)识别检测同时发生的脉冲的至少一个检测器像素矩阵的检测器像素，‑(E4)检查至少三个同时发生的脉冲已经由三个不同的检测器像素检测到，并且如果是这样的话，‑(E5)在已经检测到同时发生的脉冲的像素中搜索邻近像素，‑(E6)如果邻近像素被识别，则以孤立像素和/或邻近像素组的形式对已经检测到同时发生的脉冲的像素进行分类，‑(E7)计数已经检测到同时发生的脉冲的孤立像素和/或成邻近像素组，‑(E8)如果在计数孤立像素和/或邻近像素组的步骤中计数至少三个孤立像素和/或邻近像素组，则确认在持续时间δT期间发生的事件，并且针对所有发生的同时检测，其包括：‑(E9)计数在从时间参考(T0)计数的时间阈值(Ts)之上发生的确认事件的数量，‑(E10、E11)确定在时间阈值(Ts)之上检测到的散粒噪声，‑根据散粒噪声(B)来计算报警阈值(Sal)，‑根据计数步骤(E9)中计数的确认事件的数量与报警阈值的比较(E15)来确定物体中的核材料的存在或不存在的信号(Sm)的步骤，并且‑计算反应与核材料的存在或不存在的信号(Sm)相关联的置信率的概率(P)。