[发明专利]用于多阈值电压装置的使用双重折线图案化的标准单元架构有效
| 申请号: | 201280004896.X | 申请日: | 2012-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN103299423A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
| 发明(设计)人: | 普拉·奇丹巴拉姆;普拉亚格·B·帕特尔;佛亚·凡;普拉特尤沙·卡迈勒;肖克·H·甘;切森·斯瓦米内森 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;G06F17/50;H01L21/033;H01L27/118 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 宋献涛 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 一种使用包含具有不同电压阈值的装置的标准单元架构而制造的设备,其可包含与第一通道长度相关联的第一折线集合,其中所述第一折线集合内的每一折线被分离达大体上恒定间距。所述设备可进一步包含与第二通道长度相关联且与所述第一折线集合对准的第二折线集合,其中所述第二折线集合内的每一折线被横向地分离达所述大体上恒定间距。所述设备可进一步包含在所述第一折线集合下方的第一作用区,和在所述第二折线集合下方的第二作用区,其中所述第一作用区与所述第二作用区被分离达小于170nm的距离。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 阈值 电压 装置 使用 双重 折线 图案 标准 单元 架构 | ||
【主权项】:
一种使用包含具有不同电压阈值的装置的标准单元架构而制造的设备,其包括:第一折线集合,其与第一通道长度相关联,其中所述第一折线集合内的每一折线被分离达大体上恒定间距;第二折线集合,其与第二通道长度相关联且与所述第一折线集合对准,其中所述第二折线集合内的每一折线被横向地分离达所述大体上恒定间距;在所述第一折线集合下方的第一作用区;以及在所述第二折线集合下方的第二作用区,其中所述第一作用区与所述第二作用区被分离达小于170nm的距离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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