[发明专利]光学测量装置和用于光学测量的方法有效
| 申请号： | 201280003880.7 | 申请日： | 2012-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN103327886A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | V·萨为普朗斯莱泊恩;M·I·B·M·卡西姆 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01N21/35;G01N33/49 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 袁玥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了一种基于反射的光学测量装置和用于基于反射的光学测量的方法。该装置包括：照射和检测组件，其被配置为向用于测量的用户的表面部分输出光，以检测从所述用户的表面部分反射的输出光作为信号；耦合部件，其被配置为在无缆配置中耦合到个人移动处理装置；测量表面，其被配置为允许用户的表面部分接入所述测量表面；其中通过无支座的光学装置提供所述接入，从而允许用户的表面部分从单个平面中的全部方向接入所述测量表面；并且另外其中所述耦合部件被配置为将检测信号传输到所述个人移动处理装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 用于 方法 | ||
【主权项】：
一种基于反射的光学测量装置，包括：照射和检测组件，其被配置为向用于测量的用户的表面部分输出光，以及检测从所述用户的所述表面部分反射的输出光作为信号；耦合部件，其被配置为在无缆配置中耦合到个人移动处理装置；测量表面，其被配置为允许所述用户的所述表面部分接入所述测量表面；其中通过无支座的所述光学装置提供所述接入，从而允许所述用户的所述表面部分从单个平面中的全部方向接入所述测量表面；以及另外其中所述耦合部件被布置为将检测信号传输到所述个人移动处理装置。
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